PCIe 8.0与Chiplet封装:2024芯片AI技术大会排行榜
人工智能市场规模持续攀升,应用边界加速扩展,底层支撑如通用大模型、专用芯片、算力基础设施的持续迭代,正推动AI应用向更深层、更广域渗透。这种正向循环效应使得产业整体增速远超预期,技术迭代周期显著缩短。
在此背景下,6月30日我们将举办一场专注硬核技术的专业论坛——AI X Compute 算力基础设施测试论坛。议题聚焦Chiplet先进封装、高速计算PCIe 6.0/7.0接口、112G/224G高速互联等前沿方向。长电科技、晟联科、BitifEye的行业专家将现场分享技术趋势与产业路径。如果你正关注这些领域,欢迎注册参会,与同行深入交流。
论坛日程
以下为完整议程安排:
13:30-13:50 主题演讲——智算基石:从芯片到集群的规模化跨越
演讲嘉宾:Brig Asay,是德科技互联网基础设施事业部战略规划总监
13:50-14:20 先进封装中的多物理场挑战和STCO应对方案
演讲嘉宾:唐彦波,长电科技芯片性能中心负责人
14:20-14:50 晟联科 PCIe 6.0:构筑极致稳定、持续领先的算力互联基石
演讲嘉宾:汪成喜,晟联科市场总监
14:50-15:35 联合演讲
01. PCIe 6.0 一致性测试深入探讨及PCIe 7.0/8.0展望 —— 马卓凡,是德科技数字解决方案工程师
02. 护航AI算力:为什么 PCIe 6.0 接收器性能至关重要 —— 卢哲伟,BitifEye东亚区市场开发总监
15:35-16:15 AI爆发下的算力突围:200G/Lane电气测试全景解析
演讲嘉宾:张晓,是德科技数字解决方案工程师
16:15-17:00 赋能AI算力:高速数字接口(USB4/DP/DDR/MIPI) 测试演进
演讲嘉宾:朱杰昕,是德科技数字解决方案工程师
17:00-17:05 抽奖
演讲摘要
演讲题目:智算基石:从芯片到集群的规模化跨越
核心思路清晰:AI正逼近算力奇点。大模型参数从千亿飙升至十万亿量级,但算力供给缺口同步扩大,形成制约创新的关键瓶颈。本演讲系统拆解从单芯片、AI加速卡到大规模集群的扩展路径,重点剖析各层级必须面对的测试壁垒与工程挑战。
演讲题目:先进封装中的多物理场挑战和STCO应对
后摩尔时代,先进封装成为提升系统集成度与性能的核心杠杆,STCO(系统技术协同优化)在此过程中起决定性作用。信号完整性、电源完整性、热管理、翘曲控制、可靠性等多物理场问题交织,需要通过仿真与测试的反复迭代,为延续摩尔定律、优化芯片性能提供可靠技术底座。
演讲题目:晟联科 PCIe 6.0:构筑极致稳定、持续领先的算力互联基石
立足PCIe协议演进与典型应用场景,深入分析PCIe 6.0在AI/HPC领域的爆发式需求与市场前景。重点介绍晟联科PCIe 6.0 PHY IP的最新成果,凭借其在高速SerDes领域的深厚积累与成功量产经验,为算力互联产品提供极致稳定与持续领先的底层保障。
演讲题目:PCIe 6.0 一致性测试深入探讨及PCIe 7.0/8.0展望
7月底即将举行的PCI-SIG第140次Compliance Workshop,将首次启动PCI Express 6.x设备的官方集成商列表测试,标志着PCIe 6.0生态正式进入一致性验证与规模化部署阶段。本专题聚焦PCIe 6.0一致性测试的核心技术与验证难点,详解信号完整性、协议一致性及系统级验证的挑战,并前瞻PCIe 7.0/8.0在更高速度下对测试方法、验证能力及产业生态的颠覆性要求。
演讲题目:规模化AI:为什么 PCIe 6.0 接收器性能至关重要
保障AI工作负载的持续流畅,向PCIe 6.0(64 GT/s)迁移已从可选项变为新基线。30分钟课程中,重点解析PAM4接收器评估的复杂性,梳理关键验证挑战,明确稳定接收器性能的硬性要求,确保硬件不成为系统瓶颈,助力企业构建面向未来的高可靠AI生态。
演讲题目:AI爆发下的算力突围:200G/Lane电气测试全景解析
AI集群对互联带宽的极致需求,推动IEEE 802.3dj、UALink 200G、OIF CEI-224G等标准从800G向1.6T甚至3.2T急速演进。本专题详解200Gbps/Lane主流标准的最新进展,重点介绍针对>32dB高损耗链路,IEEE 802.3dj引入的全新测试方法论——包括J3U、EOJ、JHRMS等抖动指标、SNRISI以及基于COM模型的接收端校准流程。同时展示是德科技从芯片、组件到系统级的完整发射端、接收端电气性能测试方案。
演讲题目:赋能AI算力:高速数字接口 (USB4/DP/DDR/MIPI) 测试演进
数据吞吐量爆发式增长,高速数字总线标准加速迭代,传输速率与调制复杂度从NRZ向PAM3/PAM4成倍跃迁。带宽利用率提升的同时,信噪比恶化与设计复杂度激增成为物理层最大挑战。本次演讲首秀是德科技全新Infiniium XR8示波器,深度解析USB4、DP、DDR、MIPI等核心接口的最新标准动态,全面展示XR8如何结合自动化合规测试软件,精准完成眼图测量、抖动分析及一键式发射端(Tx)一致性测试,加速下一代高速数字接口的研发落地。
嘉宾简介

Brig Asay,是德科技互联网基础设施事业部战略规划总监
现场样机展示
200G/lane 电口测试解决方案
PCIe 6.0/7.0测试解决方案







